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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀-工頻介質(zhì)損耗測試儀-LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

更新時間:2024-01-12

簡要描述:LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到160MHz。

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

一、產(chǎn)品簡介

LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到160MHz。

二、先進技術

雙掃描技術——測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。

雙測試要素輸入——測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

雙數(shù)碼化調(diào)諧——數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。

自動化測量技術——對測試件實施Q值、諧振點頻率和電容的自動測量。

全參數(shù)液晶顯示——數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、Q 值、信號源頻率、諧振指針。

DDS 數(shù)字直接合成的信號源——確保信源的高保真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

計算機自動修正技術和測試回路化使測試回路殘余電感減至低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。

三、適用標準

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》(等效IEC 60250:1969)

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》

四、主要參數(shù)

1)信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz

2)信號源頻率精度3×10-5 ±1個字, 6位有效數(shù)字;信號頻率覆蓋比11000:1;采樣精度12BIT(高精度A/D采樣);

3)Q值測量范圍:1~1000自動/手動量程;Q值分辨率0.1,4位有效數(shù)字;Q值測量工作誤差<5%;

4)Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;

5)電感測量范圍:1nH~140mH,分辨率0.1nH,自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能;

6)電容直接測量范圍:1pF~25nF,分辨率0.1pF,準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%;                                      

7)主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF(一體鍍銀成型,精度高);帶步進馬達,電容自動搜索;                                        

8)材料測試厚度:0.1mm~10mm;

9) 合格指示預置功能范圍:5~1000;

10)LCD顯示參數(shù)F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;

11)環(huán)境溫度:0℃~+40℃;

12)消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。

13)(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:

     數(shù)顯式微桿,平板電容器:

極片尺寸: 38mm

極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

夾具插頭間距:25mm±0.01mm

夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)

測微桿分辨率:0.001mm

測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm

*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm

14)電感組LKI-1:

分別由0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。

LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀

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